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Accueil > Ressources > Analyse élémentaire et/ou observation

Analyse élémentaire et/ou observation

par FD - publié le , mis à jour le

Microscope électronique à balayage à pression variable - Microscope électronique à balayage à pression variable Jeol, détecteur RX à dispersion d’énergie refroidi par effet Peltier, détecteurs électrons rétrodiffusés (contraste de numéro atomique), détecteurs électrons secondaires (imagerie classique), Détecteur et spectromètre de cathodoluminescence (imagerie et analyse spectrale) – 3 PC, 1 imprimante, 2 onduleurs dédiés, système associé de métallisation des échantillons

Spectromètre de Fluorescence X à dispersion d’énergie - Spectromètre de Fluorescence X à dispersion d’énergie Seiko, grande chambre d’analyse, analyse quantitative par la méthode des "paramètres fondamentaux", analyse quantitative à l’aide de standards, cartographie élémentaire – 1 PC, 1 imprimante, 1 onduleur dédiés

Chaîne d’imagerie en cathodoluminescence - Luminoscope Nuclide, chambre Nuclide, canon d’électrons (orientation du faisceau avec 2 aimants), Stéréo Microscope Leica tête trinoculaire éclairage annulaire et accessoires, caméra numérique Leica et pompe primaire à palette – 1 PC dédié

Lithopréparation - rodeuse de table, scie d’arasement-rectfieuse (rectilame), banc de collage (BROT Technologie) ; scie débiteuse, scie à fil, scie de précision (ESCIL) ; polisseuse MECATECH 334 (PRESI) ; four CARBOLITE FURNACES ; broyeur RETSCH ; microscope polarisant LEITZ ; binoculaire WILD